Devoir de Philosophie

microscope-sonde à balayage - physique.

Publié le 24/04/2013

Extrait du document

physique
microscope-sonde à balayage - physique. 1 PRÉSENTATION microscope-sonde à balayage, microscope utilisant une pointe extrêmement fine déplacée à la surface d'un échantillon. 2 PRINCIPE Le microscope-sonde à balayage utilise une sonde qui balaie la surface d'un échantillon pour fournir une image tridimensionnelle d'un réseau d'atomes ou de molécules à la surface de l'échantillon. La sonde est une pointe métallique dont l'extrémité effilée est de la taille d'un atome (quelques angströms ou 10-10 m), ce qui permet d'obtenir des images d'une très haute résolution : il est possible de visualiser chaque atome ou molécule de la surface. Certains appareils permettent même de manipuler ces atomes un par un et de réaliser de la sorte les structures de surface désirées. La mise au point de ce type de microscopie a été rendue possible par les progrès réalisés en usinage (obtention de pointes extrêmement fines). Il existe différents types de microscopes-sonde à balayage dont le plus utilisé et le plus ancien est le microscope à effet tunnel. 3 MICROSCOPE À EFFET TUNNEL Depuis son invention par Binnig et Rohrer en 1981 (lauréats du prix Nobel de physique en 1986), la microscopie à effet tunnel (STM, Scanning Tunneling Microscope) est une technique très utilisée pour l'observation dans l'espace réel des surfaces conductrices ou semi-conductrices. Elle fournit des images à trois dimensions avec une très haute résolution, inférieure au dixième de nanomètre (10-10 m). 4 PRINCIPE DE L'EFFET TUNNEL Le développement de la physique quantique par Born, Heisenb...
physique

« petit nombre d’appareils a été mis au point à ce jour. Par ailleurs, la microscopie à effet tunnel a aussi permis de développer une gamme d’instruments dits « à sonde locale », toujours surprenants par leur résolution : parmieux, le microscope à émission d’électrons balistiques pour l’étude des interfaces métal / semi-conducteur (le libre parcours moyen des électrons est utilisé pour mesurer leschangements d’épaisseur à l’interface), et le microscope optique à champ proche (où les photons, captés par une fibre optique, remplacent les électrons). Microsoft ® Encarta ® 2009. © 1993-2008 Microsoft Corporation.

Tous droits réservés.. »

↓↓↓ APERÇU DU DOCUMENT ↓↓↓

Liens utiles